環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法之標(biāo)準(zhǔn)匯集
更新時(shí)間:2012-01-07 點(diǎn)擊次數(shù):1531次
GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則
GB/T5170.2—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.8—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.9—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.10—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.11—1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.13—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)
GB/T5170.14—1985電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)眼動(dòng)臺(tái)
GB/T5170.15—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)
GB/T5170.16—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)
GB/T5170.17—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.18—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.19—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.20—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
GB/T10586—2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10587—2006鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10588—2006長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10589—1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10590—2006高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10591—2006高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件一
GB/T10592—1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T11158—1989高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
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溫濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)機(jī):http:///news/class/?1.html
高低溫濕熱交變試驗(yàn)機(jī):http:///asp-bin/GB/index.asp?page=7&class=60
濕冷凍試驗(yàn)箱:http:///st12126/list_51837.html