半導(dǎo)體hast老化試驗(yàn)箱
更新時(shí)間:2024-03-21
半導(dǎo)體hast老化試驗(yàn)箱熊s又稱高溫高濕高壓試驗(yàn)機(jī),廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。
半導(dǎo)體hast老化試驗(yàn)箱熊s性能: 1.設(shè)定溫度:+100℃~+147℃(蒸氣溫度) 2.濕度範(fàn)圍:75~蒸氣濕度(在47℃度時(shí)濕度高為75%) 3.濕度控制穩(wěn)定度:±3%RH 4.使用壓力:1.2~2.89kg(含1atm) 5.時(shí)間範(fàn)圍:0Hr~999Hr 6.加壓時(shí)間:0.00Kg~1.04Kg/cm2約45分 7.溫度波動(dòng)均勻度:±0.5℃ 8.溫度顯示精度:0.1℃ 9.壓力波動(dòng)均勻度:±0.1Kg 10.濕度分佈均度:±3%RH 試驗(yàn)箱實(shí)驗(yàn)條件: 1.設(shè)定溫度:+100℃~+135℃(飽和蒸氣溫度) 2.濕度范圍:75~飽和蒸氣濕度0Kg~3.5Kg/cm2(內(nèi)桶設(shè)計(jì)耐壓4Kg/cm 3.時(shí)間范圍:000Hr~999Hr 4.加壓時(shí)間:0.00Kg~1.04Kg/cm2約45 5.測試條件:溫度121℃,RH飽和蒸氣,壓力1.04Kg/c㎡ 半導(dǎo)體hast老化試驗(yàn)箱裝置特點(diǎn)介紹: 1.裝置內(nèi)壓力越大的時(shí)候PCT高壓測試儀蒸煮設(shè)備箱門唿吁反壓導(dǎo)致其與箱體更加緊密結(jié)合,不同于的傳統(tǒng)擠壓式,可延長packing的壽命。 2.裝置非常好的臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護(hù),在出現(xiàn)異常塬因和故障指示燈都會(huì)顯示,能夠好的避免因?yàn)楫惓?dǎo)致?lián)p失,甚至導(dǎo)致今天損壞。 3.裝置采用的是自動(dòng)門禁,們的自動(dòng)自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制有這安全門把設(shè)計(jì)已申請(qǐng)?jiān)谙鋬?nèi)中若出現(xiàn)大于常壓時(shí),測試門會(huì)被保護(hù)。
試驗(yàn)箱用途: 半導(dǎo)體hast老化試驗(yàn)箱又稱高溫高濕高壓試驗(yàn)機(jī),廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 艾思荔作為環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的企業(yè)之一,承擔(dān)著保證市場正常有序發(fā)展和為眾多企業(yè)服務(wù)的責(zé)任,必須提供產(chǎn)品來維護(hù)“艾思荔”形象。更多艾思荔檢測儀器半導(dǎo)體hast老化試驗(yàn)箱相關(guān)詳情請(qǐng): |
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