可靠的可程式高低溫測試箱設備操作簡便用途：  

   可程式高低溫測試箱設備【：】國防工業(yè)，航天工業(yè)自動化零組件，汽車部件，電子、電器零組件，塑料、化工業(yè)，食品業(yè)，制藥工業(yè)及相關產品在高低溫低氣壓單項或同時作用下，模擬高海拔、高空、（高原地區(qū)）氣候進行貯存運用、運輸可靠性試驗，并可同時對試件通電進行電氣性能參數的測試。  

可程式高低溫測試箱設備產品特點：  

1.平衡調溫控制系統(tǒng)（BTSC）,以P.I.D.方式控制SSR,使工作室內保持一定的壓力，并采用智能型數字溫度調節(jié)儀進行溫度的顯示與控制設定，故能長期穩(wěn)定使用.  

2.全新的造型設計，外觀高質感水平,系統(tǒng)提取日本、西德技術之精華設計制造.  

3.采用全毛細管,自動負載容量調整系統(tǒng)技術,較膨脹伐系統(tǒng)更穩(wěn)定可靠,使高低溫自由轉換、設置、顯示更加精確，升降溫速度快速、平穩(wěn)、均勻，為使用者節(jié)約寶貴時間.  

可靠的可程式高低溫測試箱設備操作簡便選型及工作尺寸：  

HL-80LW寬40XH高50XD深40cm  

HL -120LW寬50XH高60XD深40cm  

HL -150LW寬50XH高60XD深50cm  

HL -225LW寬60XH高75XD深50cm  

HL -306LW寬60XH高85XD深60cm  

可程式高低溫測試箱設備性能:  

1.溫度范圍:-70~+150℃/-50~+150℃/-40~+150℃/-20~+150℃/0~+150℃  

2.控制穩(wěn)定度：±0.5℃  

3.分布均勻度：±1.5℃  

4.正常升溫時間：+20℃~+150℃小于40分鐘非線性空載。  

5.正常降溫時間：+20~—40℃小于60分鐘.非線性空載.  

6.溫度波動度:±0.5℃.  

7.溫度均勻度:±1.5℃.  

8.氣壓范圍：常壓（1.01325×105Pa）～0.5kPa  

u壓力偏差：當常壓～壓力≥40kPa時，誤差≤±2.0kPa；  

u當2kPa≤壓力＜40kPa時，誤差≤±5％；  

u當壓力≤2kPa～0.5kPa時，誤差≤±0.1kPa；  

u降壓速率:常壓~0.5KPa≤45min（常溫、箱內干燥）  

u壓力恢復速率:≤10kpa/min；  

9.測時間設置：0～99.59Hr.  

可程式高低溫測試箱設備機械結構  

1.圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業(yè)安全容器標準，可防止試驗中結露滴水設計；  

2.圓幅內襯，不銹鋼圓幅型內襯設計，精密設計，氣密性良好；  

3.自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設計，箱內有大于常壓時測  

試們會被反壓保護；  

4.型packing，箱內壓力愈小時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合，與傳統(tǒng)擠壓式*不  

同，可延長packing壽命；  

5.實驗開始前之真空動作可將原來箱內之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣（partical<1micorn）。以  

確保箱內之純凈度；  

6.臨界點LIMIT方式自動安全保護，異常原因與故障指示燈顯示。  

7.箱體材質:  

1）外箱材質:SUS304不銹鋼板或A級冷軋板粉體烤漆.（電腦白色）  

2）內箱材質:SUS304不銹鋼板.  

3）保溫材質:高密度聚氨酯.  

可程式高低溫測試箱設備控制器系統(tǒng)：  

1.采用韓國進口彩色型5.7寸或10.4寸*微電腦液晶顯示觸  

控式屏幕直接按鍵型，中英文表示可程控器。  

2.微電腦P.I.D自動演算控制溫度.  

3.采用指針顯示正負壓表.  

4.全自動過程控制，操作簡單.  

可程式高低溫測試箱設備安全保護裝置：  

1.工作室超溫保護裝置.  

2.加熱器短路、過載.  

3.壓縮機過流過熱保護裝置.  

4.漏電短路器保護開關.  

5.鼓風電機過載過流  

6.壓縮機壓力保護裝置  

可程式高低溫測試箱設備執(zhí)行與滿足標準：  

1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件.  

2.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術條件.  

3.GB/T2421-1991《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則》.  

4.GB/T2423.21-1991《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法》.  

5.GB/T2423.25-1992《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》.  

6.GB/T2423.26-1992《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》.  

7.GB/2423.34-86.MIL-STD883（方法1004.2）高低溫組合循環(huán)試驗.  

8.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序.  

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