光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*！
更新時(shí)間：2024-06-27
光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*！可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備用于試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。
光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*！ 可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備適用范圍： 光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*！滿足太陽(yáng)光電模塊（晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型）的設(shè)計(jì)驗(yàn)證，讓模塊能夠在一般氣候下長(zhǎng)期操作20年以上的規(guī)范要求，以確認(rèn)太陽(yáng)能電池能夠承受高溫高濕之后隨級(jí)的零下溫度影響，以及對(duì)于溫度重復(fù)變化時(shí)引起的疲勞和熱失效，另外確定太陽(yáng)能電池能夠抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力，其試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)與能力需滿足相關(guān)規(guī)范：（IEC61215、IEC61646、IEC62108、UL1703、IEEE1513、IEC61730）的要求。
可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備的規(guī)格型號(hào)
可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備特點(diǎn)： 1．應(yīng)用于太陽(yáng)能電池模塊的可靠度試驗(yàn)，是仿真陸上太 2.陽(yáng)光電模塊（晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型）的設(shè)計(jì)驗(yàn)證，讓模塊能夠在一般氣候下長(zhǎng)期操 作20年以上，規(guī)范要求太陽(yáng)能電池需進(jìn)行：Damp 3.Heat（濕熱測(cè)試），以確認(rèn)太陽(yáng)能電池能夠承受高溫高濕之后的溫度影響，確定太陽(yáng)能電池能夠抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力，其試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)與 備注：可按照客戶要求訂做非標(biāo)尺寸） 以上是關(guān)于艾思荔可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備的相關(guān)參數(shù)，如需了解更多關(guān)于可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備保養(yǎng)、維護(hù)、維修等信息，請(qǐng)！ 氙燈老化試驗(yàn)箱： http://www.ybzhan.cn/st34199/erlist_191649.html 紫外線老化試驗(yàn)箱： http://www.ybzhan.cn/st34196/sale_904317.html 光分路器可程式高低溫測(cè)試箱設(shè)備ASLI*！ |
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