FiScherSCOp® X—RAY System XDL® —B及XDLM® —C4是采用技術(shù)標(biāo) 準(zhǔn)ASTM及B568,DIN60987, ISO 3497的X一射線熒光分析法來進(jìn)行測(cè) 量, 下但可以測(cè)量金屬層厚度及金屬之 間的比重, 還可以進(jìn)行金屬物料分析。 FiScherSCOp® X—RAY Systenl XDL® 一B及 XDLM@—C4是采用全新數(shù)學(xué)計(jì)算方法來進(jìn)行鍍層厚度 的計(jì)算, 在加強(qiáng)的軟件功能之下, 簡(jiǎn)化了測(cè)量比較復(fù) 雜鍍層的程序, 甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下, 一樣 可以測(cè)量。 它還采用*的焦距距離計(jì)算辦法(DCM), 操作 員現(xiàn)在可以隨時(shí)改變焦距測(cè)量, 對(duì)一些形狀復(fù)雜的工 件尤其方便。 FiSCherSCOp® X—RAY System XDL® 一B及XDLM® —C4功能包括: 特大及槽口式的測(cè)量箱、 向下投射式X—射線, 方便對(duì)位測(cè)量、軟件在視窗98下操作、 可在同一屏幕清楚顯示測(cè)量讀數(shù)及工件的位置。
中級(jí)會(huì)員
第15年