【三綜合試驗(yàn)箱用途】 綜合環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)主要?dú)夂蛳浜驼駝釉囼?yàn)臺的綜合，對試件施加溫度、濕度、振動應(yīng)力進(jìn)行綜合環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)。與單一因素作用相比，更真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過程中對環(huán)境變化的適應(yīng)度，產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制，樣機(jī)試驗(yàn)到產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過程的重要試驗(yàn)手段。系統(tǒng)能夠產(chǎn)生溫度、濕度、振動的綜合環(huán)境，也可以產(chǎn)生單獨(dú)的溫度、濕度振動等環(huán)境。 【三綜合試驗(yàn)箱臺體技術(shù)參數(shù)】 ☆ 激振力: 正弦3000N; 隨機(jī)2400N ☆ 頻率范圍: 5Hz ~ 4000Hz可做定頻、往返掃頻、正弦波、隨機(jī)波. ☆ 掃頻時間: 定頻/單次掃頻為1-3600min,并可顯示各種掃頻曲線. ☆大加速度: 1000m/s2（ 100個G，空載） ☆ 大速度: 1.6m/s ☆掃頻方式: 線性、對數(shù)、正反掃、定頻. ☆ 掃頻次數(shù): 1-32767次. ☆ 振動方向: 垂直 +水平 ☆ 振動波形:正弦波、隨機(jī)波、可在屏幕上觀察控制譜形、波形及信號動態(tài)范圍 ☆消耗功率 : 15KVA ☆DA-3功率放大器:15KVA , 尺寸:W60×H170×L8CM ☆ 大位移:25mmp-p（空載.）雙峰值。 ☆ 振動部件有效質(zhì)量: 動圈重量3.0kg ☆ 大空載:120kg ☆振動機(jī)臺體尺寸:W75×H82×L89CM 【三綜合試驗(yàn)箱優(yōu)點(diǎn)】 ☆ 雙用途設(shè)備，投資回報率高 ☆ 具有靈活性，可以和現(xiàn)有的振動試驗(yàn)臺一起使用 ☆ 可以模擬多三種測試環(huán)境 ☆ 溫變速率更快 【三綜合試驗(yàn)箱特點(diǎn)】 ☆ 振動臺隔板接口 ☆ CSZ EZT-570i觸摸控制器 ☆ 以太網(wǎng)監(jiān)測&控制 ☆ RS-232，RS-485串行通信接口 ☆ 無霧觀察窗&內(nèi)部照明燈 【三綜合試驗(yàn)箱相關(guān)信息】 ☆ 帶有隔板接口，可以和振動臺連接 ☆ 見完整的選件列表 ☆ 選擇試驗(yàn)箱時的注意事項(xiàng) ☆ 定制振動測試服務(wù) ☆ 無霧觀察窗和內(nèi)部照明燈便于清晰觀察產(chǎn)品 ☆ 試驗(yàn)箱端口和樣品架采用全焊接方式，消除了潛在的泄漏問題，延長了設(shè)備使用壽命 ☆ CSZ EZT-570i觸摸控制器帶有7”或10”觸摸屏，采用環(huán)境試驗(yàn)箱操作編程的新技術(shù)，操作簡便。帶有數(shù)據(jù)記錄，以太網(wǎng)控制&監(jiān)測，數(shù)據(jù)備份功能，可以通過USB存儲器或計算機(jī)訪問數(shù)據(jù)文件，通過電子郵件或短信息發(fā)送報警通知，完善的系統(tǒng)安全保護(hù)功能，提供在線和多語言語音幫助 ☆ 具有產(chǎn)品高低溫超溫保護(hù)和報警功能，可以保護(hù)被測樣品 ☆ 試驗(yàn)箱內(nèi)層采用304磨光不銹鋼材料，易于清潔。接縫采用*焊接方式，密封性好，防止潮氣進(jìn)入試驗(yàn)箱 ☆ RS-232/485串行通信接口，以太網(wǎng)控制&監(jiān)測（通信選件可選） ☆ 使用EZ-View 軟件選件可以同時監(jiān)測&控制20多臺試驗(yàn)箱，無地點(diǎn)限制 ☆ 試驗(yàn)箱外壁采用壓型鋼板，結(jié)構(gòu)強(qiáng)度更大，采用耐久粉末/聚氨酯噴涂工藝（也可以噴涂用戶的涂層） 【三綜合試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)】 ☆ 壓力表可連續(xù)監(jiān)測試驗(yàn)箱運(yùn)行壓力，帶有預(yù)報警指示器 ☆ CSZ生產(chǎn)的試驗(yàn)箱全部采用環(huán)保安全，不易燃，非爆炸性，具有零臭氧消耗潛能值的制冷劑（ODP） ☆ 高容量氣流裝置配有強(qiáng)勁的空氣循環(huán)器，能夠提供良好的氣流，從而提高了設(shè)備內(nèi)部的可控性；良好的氣流能大限度的減小溫度梯度，加速設(shè)備的溫度變化速率。 ☆ 電子濕度傳感器，精確度高，低維護(hù)要求，適用于所有型號 ☆ 加濕用水過濾系統(tǒng)可以過濾雜質(zhì)，保護(hù)試驗(yàn)箱內(nèi)部 【三綜合試驗(yàn)箱設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)】 ☆ GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)檢定方法（溫度試驗(yàn)設(shè)備） ☆ GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程（濕熱試驗(yàn)方法） ☆ GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程（試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法） ☆ GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程（試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法） ☆ GJB150.3-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法（高溫試驗(yàn)） ☆ GJB150.4-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法（低溫試驗(yàn)） |
點(diǎn)擊放大